精微制造
最小化参数探针卡寄生电容
Minimizing Parametric Probe Card Stray Capacitance
in
工业探针
←
用以提高自动化集成电路测试产量的V93000 Direct-Probe™ 高并行探针卡
High Parallelism Probe Card on V93000 Direct-Probe™ System to Increase Testing Throughput on Automotive ICs
今天推出了一种300mm晶圆测量系统CM300xi-ULN，该系统设计用于闪烁噪声（1/f）、随机电报噪声（RTN）和相位噪声的高精度测试。此类噪声现象对先进模拟和数字IC技术造成的困扰日益增加，而该技术功率和性能的提高需要以降低噪声容许量为代价。因此，目前的器件设计和验证需要使用高灵敏度设备仔细表征此类内部噪声源。上述探针系统CM300xi-ULN通过消除97%以上的环境噪声为超低噪声测量建立了新的行业标准。
带有智能接触技术的新型CM300xi-ULN从根本上改变了7纳米以下前沿技术节点的实验室闪烁噪声测量。目前可以针对半自动或全自动探测部署高吞吐量低频闪烁噪声测试，并采用多DUT布局完全实现全天候自动运行。由于CM300xi-ULN降低了低噪声测试单元优化的复杂性，测试工程师只需通电即可开始测试。
→
评论
发表回复
取消回复
您的邮箱地址不会被公开。
必填项已用
*
标注
评论
*
显示名称
邮箱
网站
Δ
More posts
微光学和纳米光学制造技术
2023年3月15日
精密测量理论与技术基础
2023年3月15日
典型精密零件机械加工工艺分析及实例（第2版）
2023年3月15日
卧式多工位精密热锻技术
2023年3月15日
发表回复