半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

IC（集成电路）测试是IC芯片从设计到流片，再到应用过程中非常重要的一环，不仅可以让半导体制造厂商节约大量的成本，而且测试的结果非常的可靠。IC测试针作为IC测试治具最为重要的一个物件，主要起到什么作用呢?

1、增强治具的耐用度
IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大，所以能获得更长的寿命。

2、不间断电接触设计
行程超过有效行程（2/3行程）或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗，消除因探针造成的假性开路造成的误判。

3、提高了测试精度

IC测试针因为更加精细，通常直径都是0.58mm以下，总长不超过6毫米，所以能够达到同规格产品更好的精准度。

IC测试冶具通用性高，只需更换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒；采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品，可使IC和PCB之间的数据传输距离更短，从而保证测试结果更稳定，频率更高，DDR3系列最高频率可达2000MHz。