在电子测试中，探针有弹片微针模组和Pogopin探针模组两种类型。这两种探针都是用于手机电池、屏幕、摄像头等连接器模组测试的。弹片微针模组和pogopin探针模组的对比

一、电流传输能力和小pitch领域的适应性
弹片微针模组是一体成型式的弹片结构，体型轻薄，镀金后经过加硬处理，可承载的电流最高能达到50A，电流传输时流通于同一材料体内，具有更好地连接功能；在小pitch领域，弹片微针模组的适应性高，可取值范围最小可达到0.15mm，性能很稳定。
Pogopin探针模组由针头、针管、针尾组成，由于组件多，电流传输时是从针头传导到针管再到针尾，电阻通常是可变的，电流也会在不同部位衰减，造成连接不稳定的情况；在小pitch领域，pogopin的适应性较差，可取值范围只在0.3mm-0.4mm之间，还有可能卡pin、断针，也无法应对更小pitch的测试。
二、高频率测试和使用寿命
弹片微针模组的平均使用寿命可达到20w次以上，在操作、保养、环境都很好的情况下能达到50w次，使用寿命长，无需经常更换。在高频率的测试中，有着较好的应对能力，可保持稳定的连接。
Pogopin探针模组的使用寿命只在5w次左右，在面对高频率的测试需求时，需要经常更换和清洁，在时间和物力上的耗费反而会拖慢测试进度，不利于测试的稳定性。
三、头型与待测对象的适配度
在手机电池、屏幕、摄像头等连接器模组测试时，弹片微针模组可用不同的头型分别应对连接器公母座，使连接更稳定。测试公座时，可用锯齿型弹片与连接器公座顶部弹片多点接触，保证接触的稳定性；测试母座时，可用尖头型弹片与连接器母座的弹片两面一直保持接触状态，保证连接的稳定性。弹片微针模组在母座上的测试良率可达到99.8%。

Pogopin探针模组针对连接器母座测试几乎无法实现，稳定性极差，大多时候都是用轻触方案来临时应对。在母座测试时很少使用pogopin，极易断针，测试良率也仅有80%。